Deutsches Institut fur Normung e. V.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006 + A1:2012)
 N EN 60749-27

Автоматический перевод:

Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 27: Электростатический разряд (ESD) тестирование чувствительности - Модель машины (MM) (IEC, 60749-27:2006 + A1:2012)

В этой части Международной комиссии по электротехнике 60 749 стандартный процесс установлен, чтобы проверять полупроводниковые элементы относительно их чувствительности на повреждениях или снижении производительности (деградации) и классифицировать, если эти комплектующие изделия с электростатической разгрузкой (ESD; en: electrostatic discharge) требуют после установленной модели машин (МИЛЛИМЕТР). Этот процесс может использоваться альтернативно для метода испытания ESD после гуманно модели тела. Целью является получать надежные и повторяемые проверочные результаты ESD за правильную классификацию.

Этот метод испытания может применяться при всех полупроводниковых элементах и классифицирован как разрушая.

Проверочные требования ESD для полупроводниковых элементов должны идти соответственно этого метода испытания или гуманно модели тела (HBM; смотри Международную комиссию по электротехнике 60749-26) или другой выбираются в ряду Международной комиссии по электротехнике 60 749 установленным методам испытания ESD. Как МИЛЛИМЕТР, так и метод испытания HBM поставляют похожие, но никакие идентичные проверочные результаты. Если устанавливаясь иначе, не нужно использовать метод испытания HBM.