0 продуктов

Авторизация

IEC 60749-32 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced) - Edition 1.1 Consolidated Reprint

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

International Electrotechnical Commission

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced) - Edition 1.1 Consolidated Reprint
 N 60749-32

 

Annotation

 

Scope and object

This part of IEC 60749 is applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits).

The object of this test is to determine whether the device ignites due to external heating. The test uses a needle flame, simulating the effect of small flames which may result from fault conditions within equipment containing the device.

NOTE This test is identical to the test method contained in 1.2 of chapter 4 of IEC 60749 (1996), apart from the addition of this clause, the addition of titles to clauses 2 and 3 and renumbering.

 

Автоматический перевод:

 

Полупроводниковые устройства – Механические и климатические методы тестирования – Часть 32: Воспламеняемость пластмассовых инкапсулированных устройств (внешне вызванный) - Выпуск 1.1 Объединенная Перепечатка

Объем и объект

Эта часть IEC 60749 применима к полупроводниковым устройствам (дискретные устройства и интегральные схемы).

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ