IEC 62374 Semiconductor devices – Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films - Edition 1.0
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- IEC TS 62686-1 Process management for avionics – Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications – Part 1: General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors - Edition 1.0
- 03
- IEC TS 62686-1 Process management for avionics – Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications – Part 1: General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors - Edition 1.0
- 03.100
- 31
- 49
- Картотека зарубежных и международных стандартов
International Electrotechnical Commission
Semiconductor devices – Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films - Edition 1.0
N 62374
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства – тест Пробоя диэлектрика с временной зависимостью (TDDB) для фильмов диэлектрика затвора - Выпуск 1.0
Эквиваленты данного стандарта:
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
