European Committee for Electrotechnical Standardization

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
 N EN 62374

Автоматический перевод:

Полупроводниковые устройства - тест Пробоя диэлектрика с временной зависимостью (TDDB) для фильмов диэлектрика затвора

Эквиваленты данного стандарта:

• IEC 62374 Semiconductor devices – Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films - Edition 1.0

Уважаемый пользователь!

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.