International Electrotechnical Commission

Integrated circuits – Measurement of impulse immunity – Part 3: Non-synchronous transient injection method - Edition 1.0
 N 62215-3

Annotation

This part of IEC 62215 specifies a method for measuring the immunity of an integrated circuit (IC) to standardized conducted electrical transient disturbances. The disturbances, not necessarily synchronized to the operation of the device under test (DUT), are applied to the IC pins via coupling networks. This method enables understanding and classification of interaction between conducted transient disturbances and performance degradation induced in ICs regardless of transients within or beyond the specified operating voltage range.

Автоматический перевод:

Интегральные схемы – Измерение импульсной неприкосновенности – Часть 3: несинхронный переходный инжекционный метод - Выпуск 1.0

Эта часть IEC 62215 определяет метод для измерения неприкосновенности интегральной схемы (IC) к стандартизированным проводимым электрическим помехам от переходных процессов. Беспорядки, не обязательно синхронизируемые с работой устройства под тестом (DUT), применяются к контактам IC через цепи связи. Этот метод позволяет понять и классификация взаимодействия между проводимыми помехами от переходных процессов и ухудшением производительности, вызванным в ICs независимо от переходных процессов в или вне указанного диапазона рабочего напряжения.