0 продуктов

Авторизация

IEC 60749-16 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 16: Particle Impact Noise Detection (PIND) - Edition 1.0; Replaces IEC/PAS 62171

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

International Electrotechnical Commission

Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 16: Particle Impact Noise Detection (PIND) - Edition 1.0; Replaces /PAS 62171
 N 60749-16

 

Автоматический перевод:

 

Полупроводниковые устройства - механические и климатические методы тестирования - часть 16: Обнаружение шума влияния частицы (PIND) - выпуск 1.0; замены IEC/PAS 62171

 

Эквиваленты данного стандарта:

 

 

Уважаемый пользователь!

 

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ