0 продуктов

Авторизация

DIN SPEC 52407 Nanotechnologies - Methods for preparation and assessment for particle measurements with atomic force microscopy (AFM) and transmission scanning electron microscopy (TSEM)

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

Deutsches Institut fur Normung e. V.

Nanotechnologies - Methods for preparation and assessment for particle measurements with atomic force microscopy (AFM) and transmission scanning electron microscopy (TSEM)
 N SPEC 52407

 

Автоматический перевод:

 

Нанотехнология - методы к подготавливанию и оценке для измерений частицы с копией микрофона силы растра (AFM) и копией микрофона электронов растра в способе трансмиссии (TSEM)

Коллекция методов содержит эти SPEC германского промышленного стандарта к уверенному и воспроизводимому подготавливанию тесно распределенных нано-частиц рекомендации на ровных площадях, а также их измерении величин и оценке.

Описанные процессы более отдельные применимо на подготавливание и исследование или в цепях друг к другу лежащей частицы, а также Monolagenschichten в области величин под 1 m.

 

 

Уважаемый пользователь!

 

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ